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0.001FL高分辨率照度計系統級光學測量
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發布時間:2022年11月22日                  作者:德國GMC-I高美測儀(上海電勵士)


0.001FL高分辨率照度計系統級光學測量


創新的MAVOMASTER測量光強的儀器和MAVOPROBES光照度探頭組合的光學測量系統為您提供了適合您應用的靈活性和可靠性。

全新研發的MAVOMASTER光學檢測系統和MAVOPROBES亮度均勻性測試儀組合探頭方案將光計量和認證提升到一個新的水平:通用主機MAVOMASTER光照強度測量儀器現在可以輕松靈活地與各種探頭(光測量探頭)結合。例如,滿足 DIN5032-7 B級或C級的照度測量探頭,滿足 DIN5032-7 B級的亮度探頭,或用于無損檢測的UV-A/LUX組合探頭,特別適用于多應用場景下的高效光測試和認證。

MAVOMA STER和MAVOPROBES組合光學測量系統

一個主機搭配四種不同光學探頭的光測量系統

每種MAVOPR0BE光學測量探頭在發貨前都會校準,并且可以立即連接到任何 MAVOMASTER光學測量裝置主機上。MAV0PR0BE光學測量裝置探頭將采集到的測量數據以數字格式傳輸到MAVOMASTER主機。此外,還可以使用一根可選的 USB 適配器電纜將測量探頭直接連接到計算機上。因此,通過該測量探頭可以實現一個單通道到多通道的測量系統。測量探頭也可以使用 USB 集線器進行擴展和供電,開放接口協議使得將測量探頭集成到您自己的應用程序中變得簡單而容易。所有探頭和基本主機的固件都通過 USB 接口進行更新。該測量系統的設計還為校準提供了優勢,因為測量探頭可以單獨校準——以簡化運輸和減少停機時間。

光學檢測系統集成現場評估功能

MAVOMASTER光學檢測系統的測量的同時集成了測量結果的評估功能,從而實現在測試現場可以實時評估結果。可以將此功能分配給F1 和F2 的功能鍵,以進行更簡潔的操作。對工作場所照明評估包括數據記錄、相對測量、光柵測量等,通過計算 Emin / Emax / Eavg /UO / UD值,以及對比度測量的B/A 比率測量,B-A 偏差測量,%A 偏差測量和集成的輻照度測量等方法。

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