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    對于大多數商業和國防電子設備測試來講，許多應用程序需要對一個顯示器進行多次測量，一個樣品要進行三次采樣測量來確定其平均亮度。使用傳統的基于單點測試的光度計或色度計測量是需要將測量點對準目標執行測量，然后移動儀器重新對準點，再次測量，以此類推直至測量完成。在測量過程中，特別是當必須對大量區域或者字符進行采樣時，測量人員將消耗大量的時間成本。

    成像亮度計系統可以單次測量即可捕獲整個樣品，然后再用系統軟件分析其亮度和色度。這種設計減少了因重新定位機器或樣品所需要的時間，以及在每個位置處附加的測量時間。特別的是，在低亮度的情況下，成像亮度計可以多次采樣疊加使測量更精準。

    傳統的單點測試系統中，光穿過物鏡，成像到鏡子中的刻蝕的光闌上。在通過光闌后，待分析信號穿過濾波器，到達檢測器，檢測器通常為PMT或者硅光電二極管。