滿足GB/T5097無損探傷滲透磁粉檢測要求的紫外輻照計：

1 紫外輻射源 

應在標稱Z大強度值在(365±5)nm 處和半峰全寬(FWHM)為30nm 的紫外輻射源下進行檢測。 盡量減少環境可見光入射到被檢工件上,避免紫外線直接或間接從紫外燈照射人眼,或經過其他光源濾 光片照射人眼。紫外輻射源在檢測前提前打開,待其輸出穩定后進行檢測。紫外輻照度可能因光源老 化、反射器退化或濾波片老化而發生數值變化。 檢測表面應均勻照射。 注:陣列中單個 LED損壞會產生光照不均勻的現象。 典型紫外輻射源有水銀燈、鹵素燈、氙燈和 LED陣列。

2 測量 

在工作條件下,應使用紫外輻照計測量被檢工件表面的輻照度。紫外輻照計具有圖1所示的靈敏 度響應特性。 應在紫外輻射源輸出穩定后測量被檢工件表面的輻照度。對于高壓水銀燈,應至少開啟10min后 測量。 按5.2測量環境白光照度。照度計上讀數不應受紫外輻射干擾。 相對光譜響應是傳感器在給定波長λ 的輻照響應與365nm 處的輻照響應的比值。 合適的傳感器光譜響應曲線不應在圖 1 所示的 ABCD 區域內。A,B,C,D 對應如下述要求的 極限: 

———A 任何波長的相對光譜響應不應超過105%; 

———B 相對光譜響應曲線的峰值應出現在355nm 和375nm 間; 

———C 313nm 波長處的相對光譜響應值應低于10%;

———D 405nm 波長處的相對光譜響應值應低于2%。

圖1為滿足要求的儀器產生的曲線示例。

說明: S(λ)rel———相對光譜響應; λ ———波長。

3 要求 

清除多余滲透劑時,被測工件表面的紫外輻照度應至少為1 W/m2(100μW/cm2),環境白光照度 應小于100lx。 

檢測時,被測工件表面的紫外輻照度應至少為10 W/m2(1000 度應不大于20lx。應在工作條件下紫外輻照輸出穩定后測量。 μW/cm2),被測工件表面的白光照 

檢測時不應佩戴Y久性有色眼鏡或在檢測條件下使光線變暗的眼鏡。 

滲透檢測時,檢測人員應避免高能量和長時間的紫外輻射,通常紫外輻照度小于或等于50 W/m2 (5000μW/cm2)。 

在檢測人員視場內不應出現閃爍光、其他可見光源或紫外輻射源。環境白光照度應小于或等于 20lx。

無損檢測系統必須定期檢測以確保無損檢測的質量和可靠性。該檢測包括UV-A紫外輻射強度和照度。GB/T 5097,DIN EN ISO 3059中描述了該試驗方法，其中包含照度和UV-A輻照度的Z低要求及其測量符合制造商規范的校準間隔，規定不少于每12個月一次，以及必須以校準證書的形式提供文件。